| 产品特性：检测 | 是否进口：否 | 产地：美国 |
| 加工定制：否 | 类型：高速LCR测量仪 | 品牌：Agilent/安捷伦 |
| 型号：E4991A | 测量范围：3G | 测量准确度：01% |
| 测量频率：1MHz | 测量速度：0.1 |
Keysight E4991A 射频阻抗/材料分析仪提供阻抗测量性能和强大的内置分析功能。它将为评估 3 GHz 范围内组件的组件和电路设计人员的研发提供创新。E4991A 使用 RF-IV 技术，而不是反射测量技术，可在宽阻抗范围内进行更***的阻抗测量。基本阻抗精度为 +/-0.8%。高 Q 精度可实现低损耗元件分析。内部合成器以 1 mHz 的分辨率扫描 1 MHz 至 3 GHz 的频率。
材料评估： Agilent E4991A 提供宽频率范围（1 MHz 至 1 GHz）的完整介电/磁性材料测量解决方案。
晶圆上测量： Keysight E4991A-010（安捷伦）探针台连接套件使我们能够轻松地将 Keysight E4991A（安捷伦）连接到 Cascade Microtech 的射频探针系统，以进行晶圆上阻抗测量。
温度特性评估：温度特性测试套件 E4991A-007 是元器件和材料温度特性测量的全新解决方案。该选件可在 - 55°C 至 + 150°C 的宽温度范围内提供高精度的温度特性分析能力，并具有强大的温度漂移补偿功能。
Keysight E4991A 射频阻抗/材料分析仪的主要技术指标包括：
基本精度：
+/- 0.8 % 基本精度
扫描参数
频率：1 MHz 至 3 GHz
振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
直流偏置电平（选项 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多功能
Windows 风格的用户界面
内置VBA编程功能
通过 LAN 接口传输数据
多种测量选项
介电/磁性材料测量（选项 E4991A-002）
可靠的晶圆上测量（选件 E4991A-010）
温度特性测量（选项 E4991A-007）
